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Nanometrics
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150/200mm wafer
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Visible Spectroscopic Reflectometry(SR) from 190 to 780 nm
T, n and k measurement on single and multi-layer film stacks
Windows NT OS for real-time, multi-tasking operations
N2000 user interface compliant to SEMI standard
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地址:新竹縣竹北市華興五街80號1樓
電話:03 5552217
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